近日,国际电工委员会纳米电工产品与系统技术委员会(IEC/TC 113)发布《石墨烯薄膜的载流子迁移率和方块电阻测量:霍尔棒法》国际标准,首次在国际上建立石墨烯薄膜标准化测量流程,实现石墨烯材料从实验室到产业化应用的关键一步。该标准由位于嘉定区菊园新区的中国科学院上海微系统与信息技术研究所王浩敏研究团队牵头提案并组织编制,来自德国、韩国、加拿大等多国的专家参与制定工作。
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